光纖連接器端面3D測(cè)試介紹-摩泰光電

3D測(cè)試是確保光纖連接器性能的關(guān)鍵測(cè)試。在生產(chǎn)光纖跳線組件時(shí)，廠家會(huì)使用3D干涉儀（是一種光學(xué)干涉測(cè)量?jī)x器）檢查光纖連接器端面并嚴(yán)格控制連接器端面的尺寸。3D測(cè)試主要是測(cè)量曲率半徑、頂點(diǎn)偏移和光纖高度。詳情如下：

? 曲率半徑

曲率半徑是指插芯軸線到端面的半徑，如下圖所示，也就是套圈端面的曲線半徑。高品質(zhì)的光纖跳線連接器端面的曲率半徑應(yīng)控制在一定范圍內(nèi)。曲率半徑超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)下限就會(huì)給光纖施加較大壓力，而曲率半徑超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)上限則無(wú)法給光纖施加壓力，從而導(dǎo)致連接器與光纖端面出現(xiàn)氣隙（即空氣間隙）。曲率半徑超過(guò)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)會(huì)導(dǎo)致光散射或物理接觸不足，從而無(wú)法保證優(yōu)良的傳輸性能。只有適當(dāng)?shù)那拾霃讲拍艽_保正確的施壓以及優(yōu)良的傳輸性能。

圖1 3D測(cè)試之曲率半徑

? 頂點(diǎn)偏移

頂點(diǎn)偏移是指研磨拋光后的插芯端面曲線的最高點(diǎn)到光纖纖芯的軸線距離。這是拋光過(guò)程中的關(guān)鍵項(xiàng)，而不準(zhǔn)確的拋光會(huì)導(dǎo)致頂點(diǎn)偏移。

圖2 3D測(cè)試之頂點(diǎn)偏移

? 光纖高度

光纖高度是光纖端面到插芯斷面的距離，也就是纖芯到套圈端面的延伸高度。高品質(zhì)的光纖跳線連接器端面的光纖高度應(yīng)控制在一定范圍內(nèi)同樣，光纖高度不能超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)范圍。如果光纖高度高與標(biāo)準(zhǔn)，在對(duì)接兩個(gè)光纖連接器時(shí)會(huì)增大光纖內(nèi)的壓力，從而損壞光纖；如果光纖高度低于標(biāo)準(zhǔn)范圍，在對(duì)接兩個(gè)光纖連接器時(shí)會(huì)產(chǎn)生間隙，導(dǎo)致插入損耗增加。這對(duì)插入損耗有嚴(yán)格要求的傳輸而言，是必須要避免的。

圖3 3D測(cè)試之光纖高度

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